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半導體冷熱沖擊實驗箱

更新日期:2021-05-19

簡要描述:

半導體冷熱沖擊實驗箱運轉(zhuǎn)時,應(yīng)盡量避免打開箱門,因為在做低溫時,苦開啟箱門易造成內(nèi)部蒸發(fā)器及其它部位之封冰現(xiàn)象,尤以溫度越低,狀況越嚴重,若必須打開,則應(yīng)盡量縮短時間。

品牌豪恩加工定制
分類沖擊試驗箱內(nèi)箱材質(zhì)SUS304不銹鋼
外箱材質(zhì)SUS 201紗面不銹鋼或冷鋼板高級噴塑處理溫度范圍-65℃~+150℃℃
波動/均勻度±2.0℃℃電源電壓380v

半導體冷熱沖擊實驗箱

簡介

豪恩系列半導體冷熱沖擊實驗箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測試設(shè)備,用于測試材料結(jié)構(gòu)或復合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在zuì短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗箱滿足的試驗方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗。

用途

用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件,無一不需要它的理想測試工具。

 

主要技術(shù)參數(shù)

環(huán)境條件    環(huán)境溫度為+5~+28℃、相對濕度≤85%、試驗箱內(nèi)無試樣條件下(即空載時)

測試方法    GB/T 2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001

規(guī)格型號    HE-LR-80S

內(nèi)箱容量    80升

內(nèi)箱尺寸    寬500×高400×深400(MM)

外形尺寸    寬1500×高1850×深1500(MM)

設(shè)備總重量約    600Kg

使用電源    AC 三相 五線 380V 50HZ

總功率約    23KW

隔層架  2個(承重20kg)

高低溫區(qū)溫度范圍    1.高溫區(qū)部分:RT(常溫)~+180℃

2.低溫區(qū)部分:RT(常溫)~-65℃

溫度測試范圍    1.高溫:+60℃~+150℃

2.低溫:-10℃~-40℃

高低溫轉(zhuǎn)換時間  ≤10S

高低溫恢復時間  3~5min(非線性空載下)

解析度  ±0.1℃

控制精度    ±0.5℃

溫度偏差    ±2.0℃

預熱區(qū)升溫速度  ≤30分鐘

預冷區(qū)降溫速度  ≤80分鐘

溫度暴露時間    高溫區(qū),低溫區(qū)各30分鐘

 

標準依據(jù)

1、GB/T2423.1-2001低溫試驗方法;

2、GB/T2423.2-2001;

3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N;

4. GJB150.3-86

5. GJB150.4-86;

6. GJB150.5-86;

7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗;

8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗;

9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗;

10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式;

11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式;

12、滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化;

10、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則;

11、GB/T 2423.22-2002溫度變化;

12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則;

13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。

 

使用注意事項

 

1.盡量避免于三分鐘內(nèi)關(guān)閉再開啟冷凍機組以免影響壓縮機之功能

2.本機禁止加熱或測試爆炸性、可燃性為高腐蝕性物質(zhì)。 否則會造成不必要的損失,或者本機不能對其進行試驗.

3.測試物放置量不可影響測試箱的風量循環(huán),否則會影響機器性能.

4.使用時門要關(guān)好、關(guān)嚴,否則溫度外泄,達不到性能區(qū)域.

5.人員操作此機,以免使機器提早損壞.

6.本機運轉(zhuǎn)時,應(yīng)盡量避免打開箱門,因為在做低溫時,苦開啟箱門易造成內(nèi)部蒸發(fā)器及其它部位之封冰現(xiàn)象,尤以溫度越低,狀況越嚴重,若必須打開,則應(yīng)盡量縮短時間。

7.當完成運轉(zhuǎn)時,待機器*停下以后方可開門取測試品。

8.于操作當中,除非有必要,請不要打開箱門,否則可能導致以下不良后果:高溫氣沖出箱外……………十分危險!

             箱門內(nèi)側(cè)仍然保持高低溫………造成傷害!

             高溫空氣可能觸發(fā)火災(zāi)警報,產(chǎn)生誤動作!

開門方法:操作人員開門時必須沿著開門方向向后移動,防止機內(nèi)大量熱氣涌出傷人.

9.請注意本機必須安全確實地接地,以免產(chǎn)生靜電感應(yīng)!

10.電路短路器、溫度超溫保護器,提供本機測試品以及操作者的安全保護,故請定期檢查。

11.運轉(zhuǎn)中,請勿以手觸檢查,以免觸電或為風扇所傷,而發(fā)生危險,因此請先停止運轉(zhuǎn),關(guān)掉電后再修理。

12.非本機職人員不可對本機進行維修和檢查,維修檢查時,由專職人員進行,同時要有監(jiān)護人員進行監(jiān)護,防止未知情人員進行通電合閘,造成觸電傷人。

保養(yǎng)方法

1.冷凍機組之冷凝器 (散熱器)應(yīng)定期保養(yǎng),保持清潔。灰塵粘糊冷凝器會使壓縮機高壓開關(guān)跳脫而產(chǎn)生誤報警,冷凝器應(yīng)定期每月保養(yǎng),利用吸塵器將冷凝器散熱網(wǎng)片上附著之其塵吸除或開機后使用質(zhì)硬的毛刷刷之或用高壓氣嘴吹干凈灰塵。

2.開關(guān)門或從爐內(nèi)取測試物時,不得讓物品與門上膠邊接觸,以防膠邊被破壞和縮短壽命。

3.機身周圍和底部的地面要隨時保持清潔,以免大量灰塵吸入機組內(nèi)產(chǎn)生意外事故和降低性能。

4.冷凍系統(tǒng)是本機的核心,請半年巡檢一次所有銅管有無泄漏雪種情況,各嗽叭接頭、焊接口,如有油漬外泄,請通知本公司或直接處理之。

5.配電盤之大電流接點,配電室內(nèi)每年至少清潔檢修一次以上,接點的松動會使整個設(shè)備處于危險工作狀態(tài),輕則燒壞組件,重則發(fā)生火災(zāi)、報警、人身傷害非常危險.清潔時清利用吸塵器將室內(nèi)灰塵吸除即可。

6.配電箱內(nèi)的兩個超溫保護器設(shè)定值請不要隨便調(diào)試,出廠時已調(diào)好,此保護開關(guān)是保護加熱管空焚和警報之用.設(shè)定點=溫度設(shè)定點+20℃~30℃。

7.當試驗產(chǎn)品時間到達后取產(chǎn)品時,必須在關(guān)機狀態(tài)下且工作人員一定要戴好干燥、防電、耐溫手套進行取放產(chǎn)品.

8.箱體內(nèi)外部的清潔與保養(yǎng)。

9.機器在操作前應(yīng)先將內(nèi)部雜質(zhì)(物)清除。

10.配電室內(nèi)每年至少清潔一次以上,清潔時請利用吸塵器將室內(nèi)灰塵吸除即可。箱體外部每年必須清洗一次以上,清洗時用肥皂水擦拭即可。

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