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半導體蒸汽老化測試儀

更新時間:2020-08-05   點擊次數(shù):680次

半導體蒸汽老化測試儀

【詳細介紹】

豪恩系列水煮試驗機適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。微電腦溫度控制器、LED數(shù)字顯示,PID+SSR控制,白金電阻溫度傳感器(PT-100),分辨率0.1℃,全自動安全保護裝置。

【技術規(guī)格參數(shù)】

  1. 規(guī)格型號:HE-ZQ-5417

  2. 內(nèi)部尺寸:500×400×170(W×H×D)mm;

  3. 外部尺寸:600×500×420(W×H×D)mm;

  4. 內(nèi)外箱體材質(zhì):SUS304#優(yōu)質(zhì)不銹鋼板;

  5. 保溫層:PV發(fā)泡膠

  6. 升溫時間:大約40分鐘;控制功能:PID+SSR,數(shù)字式顯示;

  7. 蒸氣溫度:  97℃;

  8. 計時功能:1~9999H/M/S,附時到報警功能,時間到達后切斷電源;

  9. 水位控制:低水位報警功能;

  10. 電源: AC 220V±10% 50Hz 1.0KW

 

東莞市豪恩檢測儀器有限公司

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